Księgarnia Techniczna | Podręczniki akademickie | Książki techniczne
Księgarnia Techniczna
  • Nauka
  • Edukacja
  • Technika
serdecznie zaprasza specjalistów po

książki techniczne

a także studentów - oferujemy

podręczniki akademickie
Sprzedajemy książki jako księgarnia wysyłkowa oraz w tradycyjnej księgarni
Księgarnia Techniczna | Podręczniki akademickie| Książki techniczne (0)
Katalog » INNE
Wyszukiwarka


Zaawansowane wyszukiwanie
Informacje o produkcie:
Kliknij aby zobaczyć zdjęcie w oryginalnej wielkości
Problemy metrologii elektronicznej i fotonicznej 3
Dostępność: jest w magazynie sklepu
Dostępna ilość: 1
Autor
Specyfikacja książki
Ilość stron
256
Okładka
twarda
Format
B5
Rok wydania
2010
Język
polski

Najniższy koszt wysyłki to tylko 12,00 zł
  Cena:

Ilość

przechowalnia

52,00 zł

W swoim procesie poznawczym metrologia posługuje się analizą i syntezą w dziedzinie abstrakcji na obrazach rzeczywistości wyrażonych przez modele fizyczny i matematyczny. To właśnie na tych modelach zauważamy przykłady analogii „formalnych" między różnymi od strony zjawiskowej zagadnieniami a podobnymi od strony pojęciowej. Taki sposób myślenia leży u podstaw działalności metrologii, w której zagadnienia modelowania fizycznego rzeczywistych zjawisk dają się opisać za pomocą materii, energii (entropii), czasu i informacji (negentropii). Głównym celem metrologii jest przekształcenie modeli fizycznych zbudowanych z pojęć materii, energii, czasu, w modele metrologiczne i doświadczalna weryfikacja ich poprawności, w których to modele fizyczne uzupełniane są pojęciami informacji, tak aby dostarczały wiadomości jakościowych (obserwacja) i ilościowych (pomiar). Podstawowy schemat działania metrologii odpowiada schematowi procesu poznawczego, stanowiącego połączenia badanego obiektu, będącego celem poznania z jego modelem fizycznym i modelami matematycznymi i metrologicznymi, między którymi występują sprzężenia zwrotne stanowiące odzwierciedlenie procesów weryfikacyjnych poszczególnych modeli.

Spis rzeczy

Przedmowa
    
Grzegorz ŚWIRNIAK, Janusz MROCZKA, Dyfraktometria wysokiej rozdzielczości i interferometria w obszarze tęczy w pomiarze średnicy włókna szklanego    
Cezary NIEDZINSKI, Roman Z. MORAWSKI, Bayesowska metoda estymacji stężeń na podstawie danych spektrotbtometrycznych    
Jacek J. FISZ, Mikro/nanospcktroskopia i obrazowanie fluorcsccncynje w prawidłowym ujęciu: nanometrologia
Kamil BARCZAK, Tadeusz PUSTELNY, Badanie właściwości magnetooptycznych światłowodów specjalnych typu D    

Galeria
Zapytaj o szczegóły
Imię i nazwisko:
E-mail:
Twoje pytanie:
Wpisz kod widoczny na obrazku:
weryfikator

Księgarnia Techniczna zamieszcza w ofercie głównie podręczniki akademickie oraz książki techniczne przede wszystkim z dziedzin takich jak mechanika techniczna, podstawy konstrukcji, technologia gastronomiczna. Główne wydawnictwa w ofercie to Politechnika Warszawska, Politechnika Wrocławska, Politechnika Świętokrzyska oraz POLSL.
Wszelkie sugestie odnośnie zapotrzebowania na określone książki techniczne i podręczniki akademickie prosimy zgłaszać poprzez email podany w zakładce Kontakt


Księgarnia Techniczna - XML Sitemap


Aktualna Data: 2019-08-19 03:27
© Księgarnia Techniczna. Wszelkie Prawa Zastrzeżone. All Rights Reserved.