UPSSS! JavaScript nie działa sprawdź ustawienia przeglądarki

Logowanie Rejestracja
W związku z zaistniałą sytuacją dotyczącą epidemii koronawirusa - firma kurierska InPost rekomenduje zamawianie przesyłek do paczkomatów.

Informacje o produkcie

Problemy metrologii elektronicznej i fotonicznej 3


Problemy metrologii elektronicznej i fotonicznej 3
  Cena:

Ilość

przechowalnia

52,00 zł

Dostępność: jest w magazynie sklepu
Dostępna ilość: 1
Najniższy koszt wysyłki to tylko 12,00 zł

Najedź aby zobaczyć wszystkie koszty wysyłki

Specyfikacja książki
Ilość stron
256
Okładka
twarda
Format
B5
Rok wydania
2010
Język
polski
  Cena:

Ilość

przechowalnia

52,00 zł

W swoim procesie poznawczym metrologia posługuje się analizą i syntezą w dziedzinie abstrakcji na obrazach rzeczywistości wyrażonych przez modele fizyczny i matematyczny. To właśnie na tych modelach zauważamy przykłady analogii „formalnych" między różnymi od strony zjawiskowej zagadnieniami a podobnymi od strony pojęciowej. Taki sposób myślenia leży u podstaw działalności metrologii, w której zagadnienia modelowania fizycznego rzeczywistych zjawisk dają się opisać za pomocą materii, energii (entropii), czasu i informacji (negentropii). Głównym celem metrologii jest przekształcenie modeli fizycznych zbudowanych z pojęć materii, energii, czasu, w modele metrologiczne i doświadczalna weryfikacja ich poprawności, w których to modele fizyczne uzupełniane są pojęciami informacji, tak aby dostarczały wiadomości jakościowych (obserwacja) i ilościowych (pomiar). Podstawowy schemat działania metrologii odpowiada schematowi procesu poznawczego, stanowiącego połączenia badanego obiektu, będącego celem poznania z jego modelem fizycznym i modelami matematycznymi i metrologicznymi, między którymi występują sprzężenia zwrotne stanowiące odzwierciedlenie procesów weryfikacyjnych poszczególnych modeli.

Spis rzeczy

Przedmowa
    
Grzegorz ŚWIRNIAK, Janusz MROCZKA, Dyfraktometria wysokiej rozdzielczości i interferometria w obszarze tęczy w pomiarze średnicy włókna szklanego    
Cezary NIEDZINSKI, Roman Z. MORAWSKI, Bayesowska metoda estymacji stężeń na podstawie danych spektrotbtometrycznych    
Jacek J. FISZ, Mikro/nanospcktroskopia i obrazowanie fluorcsccncynje w prawidłowym ujęciu: nanometrologia
Kamil BARCZAK, Tadeusz PUSTELNY, Badanie właściwości magnetooptycznych światłowodów specjalnych typu D    

  Cena:

Ilość

przechowalnia

52,00 zł

Zapytaj o szczegóły
Imię i nazwisko:
E-mail:
Twoje pytanie:
Wpisz kod widoczny na obrazku:
weryfikator
Księgarnia Techniczna zamieszcza w ofercie głównie podręczniki akademickie oraz książki techniczne przede wszystkim z dziedzin takich jak mechanika techniczna, podstawy konstrukcji, technologia gastronomiczna. Główne wydawnictwa w ofercie to Politechnika Warszawska, Politechnika Wrocławska, Politechnika Świętokrzyska oraz POLSL.
Wszelkie sugestie odnośnie zapotrzebowania na określone książki techniczne i podręczniki akademickie prosimy zgłaszać poprzez email podany w zakładce Kontakt
Księgarnia Techniczna - XML Sitemap
©Księgarnia Techniczna. Wszelkie Prawa Zastrzeżone. All Rights Reserved

Wykonanie: inż. Agnieszka Kamińska