UPSSS! JavaScript nie działa sprawdź ustawienia przeglądarki

Logowanie Rejestracja

Informacje o produkcie

Problemy metrologii elektronicznej i fotonicznej 3 PROMOCJA!


Problemy metrologii elektronicznej i fotonicznej 3
  Cena:

Ilość

przechowalnia

52,00 zł
39,00 zł

Najniższa cena z 30 dni przed obniżką: 52,00 zł

Dostępność: jest w magazynie sklepu
Dostępna ilość: 1
Najniższy koszt wysyłki to tylko 13,00 zł

Najedź aby zobaczyć wszystkie koszty wysyłki

Specyfikacja książki
Ilość stron
256
Okładka
twarda
Format
B5
Rok wydania
2010
Język
polski
  Cena:

Ilość

przechowalnia

52,00 zł
39,00 zł

Najniższa cena z 30 dni przed obniżką: 52,00 zł

W swoim procesie poznawczym metrologia posługuje się analizą i syntezą w dziedzinie abstrakcji na obrazach rzeczywistości wyrażonych przez modele fizyczny i matematyczny. To właśnie na tych modelach zauważamy przykłady analogii „formalnych" między różnymi od strony zjawiskowej zagadnieniami a podobnymi od strony pojęciowej. Taki sposób myślenia leży u podstaw działalności metrologii, w której zagadnienia modelowania fizycznego rzeczywistych zjawisk dają się opisać za pomocą materii, energii (entropii), czasu i informacji (negentropii). Głównym celem metrologii jest przekształcenie modeli fizycznych zbudowanych z pojęć materii, energii, czasu, w modele metrologiczne i doświadczalna weryfikacja ich poprawności, w których to modele fizyczne uzupełniane są pojęciami informacji, tak aby dostarczały wiadomości jakościowych (obserwacja) i ilościowych (pomiar). Podstawowy schemat działania metrologii odpowiada schematowi procesu poznawczego, stanowiącego połączenia badanego obiektu, będącego celem poznania z jego modelem fizycznym i modelami matematycznymi i metrologicznymi, między którymi występują sprzężenia zwrotne stanowiące odzwierciedlenie procesów weryfikacyjnych poszczególnych modeli.

Spis rzeczy

Przedmowa
    
Grzegorz ŚWIRNIAK, Janusz MROCZKA, Dyfraktometria wysokiej rozdzielczości i interferometria w obszarze tęczy w pomiarze średnicy włókna szklanego    
Cezary NIEDZINSKI, Roman Z. MORAWSKI, Bayesowska metoda estymacji stężeń na podstawie danych spektrotbtometrycznych    
Jacek J. FISZ, Mikro/nanospcktroskopia i obrazowanie fluorcsccncynje w prawidłowym ujęciu: nanometrologia
Kamil BARCZAK, Tadeusz PUSTELNY, Badanie właściwości magnetooptycznych światłowodów specjalnych typu D
  Cena:

Ilość

przechowalnia

52,00 zł
39,00 zł

Najniższa cena z 30 dni przed obniżką: 52,00 zł

Zapytaj o szczegóły
Imię i nazwisko:
E-mail:
Twoje pytanie:
Przepisz kod:
weryfikator
Księgarnia Techniczna zamieszcza w ofercie głównie podręczniki akademickie oraz książki techniczne przede wszystkim z dziedzin takich jak mechanika techniczna, podstawy konstrukcji, technologia gastronomiczna. Główne wydawnictwa w ofercie to Politechnika Warszawska, Politechnika Wrocławska, Politechnika Świętokrzyska oraz POLSL
Księgarnia Techniczna - XML Sitemap
©Sprzedaż Książek. Wszelkie Prawa Zastrzeżone. All Rights Reserved

Wykonanie: inż. Agnieszka Kamińska