UPSSS! JavaScript nie działa sprawdź ustawienia przeglądarki

Menu
Koszyk
Twój koszyk jest pusty
Przechowalnia
Brak produktów w przechowalni
KOSZTY WYSYŁKI
  • Przedpłata na konto kurier InPost: 13 zł
  • Płatne kurierowi przy odbiorze kurier InPost: 19 zł
  • InPost Paczkomaty: 12 zł
  • Przedpłata na konto kurier DHL: 16 zł
  • Szczegóły dotyczące wysyłki
Logowanie || Rejestracja

Informacje o produkcie

Pomiary współrzędnościowe i analiza odchyłek geometrycznych powierzchni swobodnych


  Cena:

Ilość

przechowalnia

27,00 zł

Dostępność: jest w magazynie sklepu
Dostępna ilość: 2
Najniższy koszt wysyłki to tylko 12,00 zł

Najedź aby zobaczyć pozostałe koszty wysyłki

Specyfikacja książki
Ilość stron
203
Okładka
miękka
Format
B5
Rok wydania
2012
Język
polski
ISBN/ISSN
0867-096X/2012/203
  Cena:

Ilość

przechowalnia

27,00 zł

W pracy zaproponowano oryginalną metodykę analizy odchyłek geometrycznych powierzchni swobodnych, otrzymywanych w pomiarach współrzędnościowych. Opisano i zweryfikowano doświadczalnie opracowaną metodykę. Polega ona
na wyznaczeniu modelu powierzchniowego odchyłek, estymującego zaobserwowaną powierzchnię w sposób usuwający z danych pomiarowych niepożądane
w kontroli odchyłek kształtu informacje, takie jak szumy spowodowane procesami obróbki i pomiaru. Przestrzenna natura tych procesów wyznaczyła sposób podejścia do rozwiązania zagadnienia.

Spis treści:

Wykaz ważniejszych oznaczeń i skrótów

Wprowadzenie

1. Odchyłki geometryczne powierzchni swobodnych

1.1. Powierzchnie swobodne

1.2. Podział odchyłek geometrycznych

1.3. Przyczyny odchyłek

1.4. Tolerowanie zarysów i powierzchni swobodnych

1.5. Modele odchyłek geometrycznych

2. Pomiary współrzędnościowe powierzchni swobodnych.
Aktualny stan wiedzy

2.1. Geometryczny opis powierzchni 3D

2.2. Metody pomiarów

2.3. Lokalizacja układu współrzędnych przedmiotu

2.3.1. Metody lokalizacji stosowane w pomiarach stykowych

2.3.2. Iteracyjny najbliższy punkt

2.3.3. Macierz transformacji 3D

2.3.4. Dokładność lokalizacji

2.4. Porównanie powierzchni mierzonej z modelem CAD

2.5. Próbkowanie powierzchni w kontroli dokładności

2.6. Parametry próbkowania,
filtracja mechaniczno-geometryczna nierówności

2.6.1. Wprowadzenie

2.6.2. Wpływ końcówki pomiarowej

2.6.3. Wpływ kroku próbkowania

2.7. Rozdzielanie składowych odchyłek geometrycznych

2.8. Niepewność pomiarów lokalnych odchyłek na WMP

3. Odchyłki geometryczne w dyskretnych punktach pomiarowych

4. Cel i zakres pracy

4.1. Uzasadnienie podjęcia tematyki

4.2. Cel pracy

 

4.3. Zakres pracy

5. Metody statystyczne analizy danych przestrzennych

5.1. Autokorelacja przestrzenna

5.2. Statystyka I Morana

5.3. Weryfikacja hipotezy o braku autokorelacji przestrzennej

6. Procedura pomiaru i dobór parametrów

6.1. Niepewność pomiarów

6.2. Procedura pomiaru lokalnych odchyłek geometrycznych

6.3. Wpływ parametrów pomiaru na wyniki

6.3.1. Badanie wpływu kroku próbkowania

6.3.2. Badanie wpływu rozmiaru końcówki pomiarowej

6.3.3. Pomiary powierzchni swobodnej
z różnymi parametrami próbkowania

7. Badanie niepewności dopasowania danych do modelu CAD

8. Metodyka analizy odchyłek geometrycznych powierzchni swobodnych

8.1. Wprowadzenie

8.2. Odchyłki geometryczne powierzchni swobodnej
jako proces przestrzenny

8.2.1. Charakterystyka i model przestrzenny procesu

8.2.2. Badanie autokorelacji przestrzennej
lokalnych odchyłek geometrycznych

8.2.3. Badania symulacyjne autokorelacji przestrzennej odchyłek

8.3. Badanie właściwości przestrzennych odchyłek
geometrycznych powierzchni

8.3.1. Charakterystyka odchyłek geometrycznych powierzchni

8.3.2. Testowanie autokorelacji przestrzennej odchyłek

8.4. Model powierzchni estymującej odchyłki zdeterminowane

8.4.1. Wprowadzenie

8.4.2. Modelowanie powierzchni estymującej
odchyłki zdeterminowane

8.4.3. Badanie adekwatności modelu

8.5. Procedura wyznaczania powierzchni odchyłek zdeterminowanych

8.6. Testowanie metodyki na symulowanych
odchyłkach geometrycznych

8.6.1. Symulacja odchyłek geometrycznych na modelu CAD

8.6.2. Analiza odchyłek symulowanych

8.7. Dopasowanie modeli odchyłek zdeterminowanych
do danych pomiarowych

8.7.1. Przebieg pomiarów

 

8.7.2. Charakterystyka odchyłek badanej powierzchni

8.7.3. Dopasowanie modeli odchyłek zdeterminowanych

8.7.4. Uwagi końcowe

9. Model śladu procesu obróbkowego

9.1. Badania zmienności modeli odchyłek w procesie obróbkowym

9.1.1. Charakterystyki zaobserwowanych odchyłek geometrycznych

9.1.2. Modele CAD odchyłek kształtu

9.1.3. Zmienność modeli odchyłek

9.2. Wyznaczanie modelu śladu procesu obróbkowego

10. Zastosowania modeli odchyłek

10.1. Wyznaczanie odchyłki kształtu

10.2. Planowanie strategii pomiaru

10.3. Korekcja programu obróbkowego

11. Podsumowanie i wnioski

11.1. Podsumowanie

11.2. Wnioski ogólne

11.3. Wnioski szczegółowe

11.3.1. Aspekt metrologiczny

11.3.2. Aspekt technologiczny

Streszczenie

Summary

Literatura

  Cena:

Ilość

przechowalnia

27,00 zł

Inni klienci kupujący ten produkt zakupili również
Zapytaj o szczegóły
Imię i nazwisko:
E-mail:
Twoje pytanie:
Wpisz kod widoczny na obrazku:
weryfikator
Księgarnia Techniczna zamieszcza w ofercie głównie podręczniki akademickie oraz książki techniczne przede wszystkim z dziedzin takich jak mechanika techniczna, podstawy konstrukcji, technologia gastronomiczna. Główne wydawnictwa w ofercie to Politechnika Warszawska, Politechnika Wrocławska, Politechnika Świętokrzyska oraz POLSL.
Wszelkie sugestie odnośnie zapotrzebowania na określone książki techniczne i podręczniki akademickie prosimy zgłaszać poprzez email podany w zakładce Kontakt
Księgarnia Techniczna - XML Sitemap
©Księgarnia Techniczna. Wszelkie Prawa Zastrzeżone. All Rights Reserved

Wykonanie: inż. Agnieszka Kamińska