Księgarnia Techniczna | Podręczniki akademickie | Książki techniczne
Księgarnia Techniczna
  • Nauka
  • Edukacja
  • Technika
serdecznie zaprasza specjalistów po

książki techniczne

a także studentów - oferujemy

podręczniki akademickie
Sprzedajemy książki jako księgarnia wysyłkowa oraz w tradycyjnej księgarni
Księgarnia Techniczna | Podręczniki akademickie| Książki techniczne (0)
Katalog » GEODEZJA I KARTOGRAFIA
Wyszukiwarka


Zaawansowane wyszukiwanie
Informacje o produkcie:
Kliknij aby zobaczyć zdjęcie w oryginalnej wielkości
Instrumentoznawstwo geodezyjne i elementy technik pomiarowych
Dostępność: jest w magazynie sklepu
Dostępna ilość: 3
Autor
Specyfikacja książki
Ilość stron
458
Okładka
twarda
Format
B5
Rok wydania
2007
Język
polski
ISBN/ISSN
978-83-7299-527-8

Najniższy koszt wysyłki to tylko 12,00 zł
  Cena:

Ilość

przechowalnia

50,00 zł

Podręcznik obejmuje tematykę związaną z podstawowym sprzętem geodezyjnym. Przedstawiono w nim opisy konstrukcji tego rodzaju instrumentów geodezyjnych, a także sposoby ich sprawdzania i rektyfikacji. Omówiono podstawowe elementy optyczne przyrządu geodezyjnego oraz przyrządy optyczne, jakie występują w tych instrumentach. Ponadto, przedstawiono wiadomości dotyczące elektronicznych metod pomiaru odległości, kątów oraz różnic wysokości. Zawarto też informacje o półprzewodnikach, systemach liczbowych i kodach oraz funkcjach logicznych. W związku z tym, że w nowoczesnych instrumentach geodezyjnych wykorzystuje się technikę laserową, jeden z rozdziałów poświęcono tej tematyce. Zaprezentowano również ścienne znaki geodezyjne stosowane w praktyce, a także omówiono pochyłomierze mechaniczne i elektroniczne. W aneksie zawarto informacje dotyczące pomiarów odległości z wykorzystaniem dalmierzy interferencyjnych, omówiono światłowody, a także wskaźniki z ciekłymi kryształami. Podręcznik przeznaczony jest dla studentów kierunku geodezja i kartografia.

Spis treści:

OD AUTORA

1. WYBRANE ZAGADNIENIA Z OPTYKI INSTRUMENTALNEJ
1.1. Wiadomości podstawowe
1.2. Prawa optyki geometrycznej
1.3. Podstawowe elementy optyczne przyrządu geodezyjnego
1.3.1. Zwierciadła płaskie
1.3.2. Płytka płaskorównoległa
1.3.3. Pryzmaty załamujące i odbijające
1.3.4. Soczewki
1.4. Przyrządy optyczne instrumentów geodezyjnych
1.4.1. Lupa
1.4.2. Mikroskop
1.4.3. Luneta

2. LIBELLA I EGZAMINATOR LIBELL
2.1. Klasyfikacja libell i ich budowa
2.2. Egzaminator libell
2.2.1. Budowa egzaminatora libell
2.2.2. Wyznaczanie przetaragi libelli na egzaminatorze
2.2.3. Określanie błędu średniego koincydencji pęcherzyka libelli

3. NIWELATOR TECHNICZNY (LIBELLOWY I AUTOMATYCZNY)
3.1. Budowa mechaniczno-optyczna niwelatora technicznego libellowego
3.1.1. Niwelator techniczny z lunetą stałą
3.1.2. Niwelator techniczny ze śrubą elewacyjną
3.1.3. Niwelator techniczny ze śrubą elewacyjną i lunetą obracaną wokół osi geometrycznej lunety
3.2. Budowa mechaniczno-optyczna niwelatora technicznego automatycznego
3.3. Łaty do niwelacji technicznej
3.4. Sprawdzanie i rektyfikacja niwelatorów technicznych libellowych i automatycznych. Metody polowe i laboratoryjne
3.4.1. Kolimator geodezyjny
3.4.2. Sprawdzanie i rektyfikacja niwelatorów technicznych libellowych z lunetą stałą
3.4.3. Sprawdzanie i rektyfikacja niwelatorów technicznych ze śrubą elewacyjną
3.4.4. Sprawdzanie i rektyfikacja niwelatorów technicznych automatycznych
3.5. Niwelacja geometryczna
3.5.1. Niwelacja geometryczna ?w przód" i?ze środka"
3.5.2. Wpływ kulistości Ziemi na rezultaty wyznaczeń wysokościowych wykonywanych metodą niwelacji ?w przód"
3.5.3. Wpływ refrakcji na rezultaty wyznaczeń wysokościowych wykonywanych metodą niwelacji ?w przód" i ?ze środka"
3.5.4. Wpływ kulistości Ziemi i refrakcji na wyniki niwelacji wykonywanej metodą niwelacji ?w przód" i ?ze środka"
3.5.5. Wpływ refrakcji różnicowej na wyniki niwelacji wykonywanej metodą niwelacji ?ze środka"
3.6. Wyznaczanie różnicy wysokości między punktami, odległości poziomej do łaty i kierunku
3.6.1. Wyznaczanie różnicy wysokości między punktami
3.6.2. Wyznaczanie odległości poziomej do łaty i kierunku z koła poziomego niwelatora
3.6.3. Sprawdzanie stałych k i c dalmierza kreskowego

4. NIWELATOR PRECYZYJNY (LIBELLOWY I AUTOMATYCZNY)
4.1. Wprowadzenie
4.2. Niwelator precyzyjny libellowy
4.2.1. Niwelator Ni 004 - Zeiss
4.3. Niwelator precyzyjny automatyczny
4.3.1. Niwelator NI 007 - Zeiss
4.3.2. Niwelator Ni 2- Opton
4.3.3. Niwelator NI 002A - Zeiss
4.4. Mikrometr optyczny z płytką płaskorównoległą niwelatora precyzyjnego
4.5. Łaty do niwelacji precyzyjnej
4.6. Wyznaczanie różnicy wysokości między punktami
4.7. Sprawdzanie i rektyfikacja niwelatorów z mikrometrem optycznym
4.8. Badanie łat do niwelacji precyzyjnej
4.9. Badanie stałości osi celowej niwelatora precyzyjnego w płaszczyźnie pionowej
4.10. Badanie mikrometru optycznego niwelatora precyzyjnego

5. TEODOLIT Z JEDNOMIEJSCOWYM SYSTEMEM ODCZYTOWYM, Z MIKROSKOPEM SZACUNKOWYM LUB SKALOWYM
5.1. Wprowadzenie
5.2. Budowa mechaniczno-optyczna teodolitu
5.2.1. Teodolit z jednomiejscowym systemem odczytowym z mikroskopem szacunkowym lub skalowym
5.2.2. Układy osiowe teodolitu
5.2.3. Systemy orientacji koła poziomego teodolitu. Śruby reiteracyjne i mechanizmy repetycji
5.2.4. Pozioma oś obrotu lunety
5.2.5. Schemat optyczny teodolitu z mikroskopem skalowym. Błędy systemu odczytowego koła poziomego i pionowego
5.3. Pomiary kątów poziomych i pionowych
5.3.1. Pomiary kątów poziomych
5.3.2. Pomiary kątów pionowych
5.4. Sprawdzanie i rektyfikacja teodolitu z jednomiejscowym systemem odczytowym, z mikroskopem szacunkowym lub skalowym. Metody polowe i laboratoryjne

6. PIONY I PIONOWNIKI OPTYCZNE
6.1. Wprowadzenie
6.2. Budowa mechaniczno-optyczna pionów i pionowników optycznych
6.3. Sprawdzanie i rektyfikacja pionów i pionowników optycznych
6.3.1. Sprawdzanie i rektyfikacja pionu optycznego wbudowanego w alidadę teodolitu
6.3.2. Sprawdzanie i rektyfikacja pionu optycznego (nieobracanego) wbudowanego w spodarkę teodolitu
6.3.3. Sprawdzanie i rektyfikacja pionu optycznego niezależnego (obracanego) o celowej jednokierunkowej (nadirowej)
6.3.4. Sprawdzanie i rektyfikacja pionu optycznego niezależnego (obracanego) o celowej dwukierunkowej
6.3.5. Sprawdzanie i rektyfikacja pionownika optycznego
6.4. Centrowanie teodolitu nad punktem geodezyjnym
6.4.1. Centrowanie teodolitu ustawionego na statywie o nieregulowanej długości nóg za pomocą pionu optycznego
6.4.2. Centrowanie teodolitu ustawionego na statywie o regulowanej długości nóg za pomocą pionu optycznego

7. TEODOLIT Z MIKROMETREM OPTYCZNYM (Z JEDNOMIEJSCOWYM LUB DWUMIEJSCOWYM SYSTEMEM ODCZYTOWYM)
7.1. Budowa mechaniczno-optyczna teodolitu
7.2. Schemat optyczny teodolitu z mikrometrem optycznym. Błędy systemu odczytowego koła poziomego i pionowego
7.3. Pomiary kątów poziomych i pionowych
7.4. Sprawdzanie i rektyfikacja teodolitu z mikrometrem optycznym (z jednomiejscowym lub dwumiejscowym systemem odczytowym)
7.4.1. Sprawdzanie i rektyfikacja libell alidadowych teodolitu
7.4.2. Sprawdzenie i usuwanie błędu ustawienia krzyża kresek
7.4.3. Wykrywanie porywania limbusa
7.4.4. Wyznaczanie i usuwanie błędu kolimacji
7.4.5. Wyznaczanie i usuwanie błędu inklinacji
7.4.6. Sprawdzanie działania kompensatora automatycznego koła pionowego teodolitu
7.4.7. Wyznaczanie i usuwanie błędu indeksu koła pionowego teodolitu

8. DOŚWIADCZALNE WYZNACZANIE DOKŁADNOŚCI TEODOLITU Z MIKROMETREM OPTYCZNYM
8.1. Doświadczalne wyznaczanie błędu średniego kierunku i jego składowych
8.1.1. Doświadczalne wyznaczanie błędu średniego kierunku mk
8.1.2. Doświadczalne wyznaczanie błędu średniego odczytu mo
8.1.3. Obliczanie błędu średniego celowania mc
8.2. Doświadczalne wyznaczanie błędu średniego kąta pionowego i jego składowych
8.2.1. Doświadczalne wyznaczanie błędu średniego kąta pionowego mk'
8.2.2. Doświadczalne wyznaczanie błędu średniego czynności obarczonej wpływem poziomowania libelli kolimacyjnej (lub błędem kompensatora automatycznego) i odczytywania koła pionowego mlo
8.2.3. Doświadczalne wyznaczanie błędu średniego odczytu mo
8.2.4. Obliczanie błędu średniego celowania mc, błędu średniego poziomowania libelli kolimacyjnej lub błędu średniego kompensatora automatycznego ml

9. WYKRYWANIE MIMOŚRODU KOŁA POZIOMEGO I PIONOWEGO W TEODOLITACH Z JEDNOMIEJSCOWYM I DWUMIEJSCOWYM SYSTEMEM ODCZYTOWYM
9.1. Wprowadzenie
9.2. Wykrywanie mimośrodu koła poziomego w teodolicie z jednomiejscowym systemem odczytowym
9.3. Wykrywanie mimośrodu koła poziomego w teodolicie z dwumiejscowym systemem odczytowym
9.4. Wykrywanie mimośrodu koła pionowego w teodolitach z jednomiejscowym i dwumiejscowym systemem odczytowym

10.BADANIE STAŁOŚCI OSI CELOWEJ TEODOLITU

11. WYBRANE ZAGADNIENIA Z ELEKTRONIKI
11.1. Wiadomości wstępne
11.2. Wybrane bierne elementy elektroniczne i ich charakterystyka
11.2.1. Rezystor
11.2.2. Kondensator
11.2.3. Cewka
11.3. Wiadomości wstępne o półprzewodnikach
11.3.1. Diody półprzewodnikowe
11.3.2. Tranzystory
11.3.3. Układy scalone
11.4. Systemy liczbowe i kody
11.4.1. System dziesiętny
11.4.2. System dwójkowy
11.4.3. System ósemkowy
11.4.4. System szesnastkowy
11.4.5. System dwójkowo-dziesiętny (BCD)
11.4,6. Kodowanie binarne
11.4.7. Kod Grava
11.4.8. Kod ASCII
11.5. Funkcje logiczne

12. ELEKTRONICZNE POMIARY ODLEGŁOŚCI
12.1. Rozchodzenie się fal elektromagnetycznych w powietrzu
12.2. Dokładność pomiaru odległości metodą elektroniczną
12.3. Fazowe dalmierze elektrooptyczne
12.3.1. Metoda fazowa pomiaru odległości
12.3.2. Wybrane sposoby wyznaczania liczby N
12.3.3. Poprawka dodawania dalmierza elektrooptycznego
12.3.4. Dokładność wyznaczenia odległości dalmierzem fazowym
12.3.5.Schemat blokowy fazowego dalmierza elektrooptycznego
12.3.6.Reflektor zwrotny dalmierza elektrooptycznego
12.3.7.Podstawowe elementy i zespoły fazowego dalmierza elektrooptycznego
12.4. Impulsowe dalmierze elektrooptyczne
12.4.1. Metoda impulsowa pomiaru odległości
12.4.2. Cyfrowy pomiar czasu
12.4.3. Schemat blokowy impulsowego dalmierza elektrooptycznego
12.5. Fazowe dalmierze mikrofalowe

13. KOMPARACJA DALMIERZY ELEKTRONICZNYCH
13.1. Sprawdzanie częstotliwości wzorcowej fazowych dalmierzy elektronicznych
13.2. Wyznaczanie poprawki cyklicznej fazomierza
13.3. Niezależne wyznaczanie poprawki dodawania (stałej k)
13.4. Jednoczesne wyznaczanie poprawki cyklicznej fazomierza i poprawki dodawania
13.5. Sprawdzanie i rektyfikacja warunków geometrycznych tachymetru elektronicznego

14. ELEKTRONICZNE SYSTEMY POMIARU KĄTÓW
14.1. System kodowy pomiaru kątów
14.2. System impulsowy pomiaru kątów
14.3. System dynamiczny pomiaru kątów
14.4. Elektroniczna kompensacja wpływu odchylenia osi pionowej instrumentu na rezultaty wyznaczeń kątowych na kole poziomym i pionowym
14.4.1. Elektroniczny jednokierunkowy kompensator automatyczny

15. LASERY
15.1. Wprowadzenie
15.2. Absorpcja i emisja promieniowania
15.3. Inwersja obsadzeń poziomów energetycznych oraz czas życia atomów w stanie wzbudzonym
15.4. Pompowanie optyczne
15.5. Generacja światła laserowego
15.6. Rezonatory optyczne
15.7. Mody podłużne i mody poprzeczne
15.8. Wybrane typy laserów
15.8.1. Laser z ciałem stałym - laser rubinowy
15.8.2. Laser gazowy atomowy - laser helowo-neonowy
15.8.3. Lasery półprzewodnikowe
15.9. Cechy światła laserowego
15.10. Propagacja promieniowania laserowego

16. AUTOMATYZACJA NIWELACYJNYCH SYSTEMÓW POMIAROWYCH
16.1. Prosta odniesienia w laserowej technice pomiarowej
16.2. Wybrane sposoby określania położenia osi wiązki laserowej lub horyzontu laserowego
16.3. System elektronicznego wyznaczania horyzontu instrumentalnego niwelatora cyfrowego z wykorzystaniem laty niwelacyjnej z kodem paskowym

17. APARATURA DO WYKRYWANIA PODZIEMNEGO UZBROJENIA TERENU
17.1. Wyznaczanie trasy podziemnych ciągów rurowych i kablowych metodą indukcyjną i galwaniczną
17.2. Wyznaczanie głębokości położenia oraz średnicy ciągów rurowych i kablowych

18. ŚCIENNE ZNAKI GEODEZYJNE
18.1. Wiadomości wstępne
18.2. Odtwarzalne punkty geodezyjne - definicje
18.3. Ścienny znak geodezyjny
18.4. Ogólne zasady eksploatacji odtwarzalnych osnów geodezyjnych
18.5. Sprawdzanie ściennych znaków geodezyjnych

19. POCHYŁOMIERZE MECHANICZNE I ELEKTRONICZNE
19.1. Pochyłomierze mechaniczne
19.2. Pochyłomierze elektroniczne
19.3. Dynamiczny system pomiaru małych kątów pochylenia

LITERATURA

ANEKS

Załącznik 1
Załącznik 2
Zalącznik 3
Załącznik 4
Załącznik 5
Galeria
Inni klienci kupujący ten produkt zakupili również
Zapytaj o szczegóły
Imię i nazwisko:
E-mail:
Twoje pytanie:
Wpisz kod widoczny na obrazku:
weryfikator

Księgarnia Techniczna zamieszcza w ofercie głównie podręczniki akademickie oraz książki techniczne przede wszystkim z dziedzin takich jak mechanika techniczna, podstawy konstrukcji, technologia gastronomiczna. Główne wydawnictwa w ofercie to Politechnika Warszawska, Politechnika Wrocławska, Politechnika Świętokrzyska oraz POLSL.
Wszelkie sugestie odnośnie zapotrzebowania na określone książki techniczne i podręczniki akademickie prosimy zgłaszać poprzez email podany w zakładce Kontakt


Księgarnia Techniczna - XML Sitemap


Aktualna Data: 2019-08-23 19:36
© Księgarnia Techniczna. Wszelkie Prawa Zastrzeżone. All Rights Reserved.