UPSSS! JavaScript nie działa sprawdź ustawienia przeglądarki

Menu
Koszyk
Twój koszyk jest pusty
Przechowalnia
Brak produktów w przechowalni
KOSZTY WYSYŁKI
  • Przedpłata na konto kurier InPost: 13 zł
  • Płatne kurierowi przy odbiorze kurier InPost: 19 zł
  • InPost Paczkomaty: 12 zł
  • Przedpłata na konto kurier DHL: 16 zł
  • Szczegóły dotyczące wysyłki
Logowanie || Rejestracja

Informacje o produkcie

Metody krystalografii


  Cena:

przechowalnia

29,50 zł

Dostępność: brak - zapytaj
Najniższy koszt wysyłki to tylko 12,00 zł

Najedź aby zobaczyć pozostałe koszty wysyłki

Specyfikacja książki
Ilość stron
206
Okładka
miękka
Format
B5
Rok wydania
2004
Język
polski
  Cena:

przechowalnia

29,50 zł

Podręcznik nie zastępuje wykładu krystalografii, pomaga natomiast studentom chemii w nabyciu umiejętności niezbędnych w krystalografii, przyswojeniu trudniejszych partii materiału, a także opanowaniu podstaw do zajęć z rentgenografii monokryształów, bazujących na kursie krystalografii. Przynosi również wiadomości niezbędne do korzystania z literatury krystalograficznej.
Mogą z niego korzystać również studenci geologii, a także fizyki i biotechnologii nie mający w planie studiów morfologii kryształów.

Spis treści:

PRZEDMOWA
WSTĘP

ROZDZIAŁ l. SYMETRIA MAKROSKOPOWA KRYSZTAŁÓW
1.1. Operacje symetrii
1.1.1. Odbicie w płaszczyźnie prostopadłej do osi, na przykład do osi y
1.1.2. Obrót wokół osi symetrii zgodnej z osią krystalograficzną z
1.1.3. Inwersja - odbicie w środku symetrii, inaczej w centrum inwersji
1.2. Grupy punktowe - 32 klasy krystalograficzne

ROZDZIAŁ 2. SIEĆ PRZESTRZENNA - KOMÓRKI BRAVAIS'GO
2.1. Sieć przestrzenna
2.2. Numerowanie węzłów w sieci
2.2.1. Współrzędne atomów
2.2.2. Prosta węzłowa. Symbole prostych węzłowych - prostych sieciowych
2.3. Komórka elementarna
2.3.1. Objętość komórki elementarnej
2.4. Płaszczyzny węzłowe, ściany kryształu - ich wskaźniki

ROZDZIAŁ 3. SYMETRIA STRUKTURY KRYSZTAŁU. GRUPY PRZESTRZENNE I ICH SYMBOLIKA
3.1. Translacja jako przekształcenie symetryczne
3.1.1. Połączenie translacji z odbiciem w płaszczyźnie - płaszczyzny poślizgu
3.1.2. Połączenie translacji z obrotami wokół osi symetrii - osie śrubowe
Osie dwukrotne
Osie trójkrotne
Osie czterokrotne
Osie sześciokrotne
3.2. Grupy przestrzenne
3.2.1. Grupa Pmmm
3.2.2. Grupy płaskie
3.2.3. Grupa Imrnm

ROZDZIAŁ 4. GRAFICZNE PRZEDSTAWIANIE SYMETRII GRUP PRZESTRZENNYCH NA PODSTAWIE ICH SYMBOLU
4.1. Symbolika międzynarodowa a symbolika Schoenfliesa
4.2. Przykłady strony z International Tables
4.3. Graficzna prezentacja symetrii grup przestrzennych z klasy mm2
4.4. Graficzna prezentacja symetrii grup przestrzennych z klasy mmm
4.5. Graficzna prezentacja symetrii grup przestrzennych komórek nieprymitywnych
4.6. Analityczny opis generowania punktów równoważnych w komórce elementarnej

ROZDZIAŁ 5. DYFRAKCJA PROMIENI RENTGENOWSKICH
5.1. Źródła promieni rentgenowskich, promieniowanie ciągłe i charakterystyczne
5.2. Dyfrakcja, równania Lauego i równanie Bragga
5.2.1. Sieć odwrotna
5.2.2. Konstrukcja Ewalda
5.3. Metoda Lauego
5.4. Klasy Lauego

ROZDZIAŁ 6. METODY BADANIA MATERIAŁÓW POLIKRYSTALICZNYCH
6.1. Identyfikacja fazy
6.1.1. Systemy identyfikacji faz
6.1.2. Zasady analizy ilościowej
6.2. Wskaźnikowanie rentgenogramu proszkowego układu regularnego
6.2.1. Wyznaczanie parametru sieci i typu komórki Bravais'go
6.3. Wyznaczanie wielkości krystalitów w materiale polikrystalicznym

ROZDZIAŁ 7. METODY KRYSTALOGRAFII RENTGENOWSIOEJ MONOKRYSZTAŁÓW. WYZNACZANIE KLASY LAUEGO I PARAMETRÓW SIECI
7.1. Zdjęcie oscylacyjne
7.2. Zapis obrazu dyfrakcyjnego kryształu białka na płycie odwzorowującej
7.3. Odwzorowania niezdeformowanej sieci odwrotnej
7.3.1. Metoda de Jonga-Boumana
7.3.2. Wyznaczanie klasy Lauego z warstwicy hkO i hk1
7.3.3. Metoda precesyjna
7.3.4. Wyznaczanie typu komórki Bravais'go
7.3.5. Wyznaczanie parametrów komórki elementarnej
7.3.6. Wyznaczanie liczby cząsteczek w komórce elementarnej

ROZDZIAŁ 8. WYZNACZANIE GRUPY PRZESTRZENNEJ METODAMI RENTGENOGRAFII MONOKRYSZTAŁÓW
8.1. Wygaszenia systematyczne spowodowane obecnością płaszczyzn poślizgu i osi śrubowych
8.2. Przykłady określania grup przestrzennych na podstawie symetrii rentgenogramów i wygaszeń systematycznych

ROZDZIAŁ 9. STRUKTURA KRYSZTAŁÓW
9.1. Rys historyczny
9.2. Struktura pierwiastków metali
9.2.1. Najgęstsze wypełnienie przestrzeni przez kule styczne
9.2.2. Przykłady struktury metali
9.3. Struktura pierwiastków niemetali
9.4. Struktura kryształów dwuskładnikowych
9.4.1. Struktura kryształów o stosunku stechiometrycznym składników l: l
7.4.2. Struktura kryształów o stosunku stechiometrycznym składników l: 2
9.5. Struktura związków o składzie ABC3
9.6. Struktura kryształu molekularnego - 7,8-dimetoksy-3-okso-tetrahydroizo- chinolinotiazolidyny C13H15NO3S

ROZDZIAŁ 10. GONIOMETRIAI PROJEKCJA STEREOGRAFICZNA
10.1. Pomiar kątów między ścianami kryształu
10.2. Rysunek krystalograficzny
10.2.1. Projekcja stereograficzna kryształu należącego do układu trójskośnego
10.2.2. Projekcja stereograficzna kryształu należącego do układu jednoskośnego
10.2.3. Projekcja stereograficzna kryształu należącego do układu rombowego
10.2.4. Projekcja stereograficzna kryształu należącego do układu tetragonalnego
10.2.5. Projekcja stereograficzna kryształu należącego do układu regularnego - klasa m3m
10.2.6. Obliczanie wskaźników ścian
10.2.7. Projekcja stereograficzna kryształu należącego do układu heksagonalnego

ROZDZIAŁ 11. WŁAŚCIWOŚCI FIZYCZNE KRYSZTAŁÓW A ICH SYMETRIA
11.1. Grupy graniczne
11.2. Piroelektryczność
11.3. Piezoelektryczność
11.4. Występowanie drugiej harmonicznej
11.5. Właściwości optyczne kryształów
11.5.1. Podział kryształów na grupy optyczne
11.5.2. Badanie kryształów dwójłomnych
11.5.3. Mikroskop polaryzacyjny
11.5.4. Badanie kryształów w świetle spolaryzowanym między skrzyżowanymi nikolami
11.5.5. Barwy interferencyjne cienkich anizotropowych płytek krystalicznych w mikroskopie polaryzacyjnym
11.5.6. Skręcanie płaszczyzny polaryzacji światła

ROZDZIAŁ 12. OTRZYMYWANIE MONOKRYSZTAŁÓW
12.1. Otrzymywanie kryształów z układów jednoskładnikowych
12.2. Otrzymywanie kryształów z układów wieloskładnikowych
12.3. Wzrost epitaksjalny
12.4. Wzrost bliźniaczy
12.5. Określanie symetrii kryształu, gdy nie wykształcił ścian w położeniu ogólnym

LITERATURA
SKOROWIDZ

  Cena:

przechowalnia

29,50 zł

Inni klienci kupujący ten produkt zakupili również
Zapytaj o szczegóły
Imię i nazwisko:
E-mail:
Twoje pytanie:
Wpisz kod widoczny na obrazku:
weryfikator
Księgarnia Techniczna zamieszcza w ofercie głównie podręczniki akademickie oraz książki techniczne przede wszystkim z dziedzin takich jak mechanika techniczna, podstawy konstrukcji, technologia gastronomiczna. Główne wydawnictwa w ofercie to Politechnika Warszawska, Politechnika Wrocławska, Politechnika Świętokrzyska oraz POLSL.
Wszelkie sugestie odnośnie zapotrzebowania na określone książki techniczne i podręczniki akademickie prosimy zgłaszać poprzez email podany w zakładce Kontakt
Księgarnia Techniczna - XML Sitemap
©Księgarnia Techniczna. Wszelkie Prawa Zastrzeżone. All Rights Reserved

Wykonanie: inż. Agnieszka Kamińska