W swoim procesie poznawczym metrologia posługuje się analizą i syntezą w dziedzinie abstrakcji na obrazach rzeczywistości wyrażonych przez modele fizyczny i matematyczny. To właśnie na tych modelach zauważamy przykłady analogii „formalnych" między różnymi od strony zjawiskowej zagadnieniami a podobnymi od strony pojęciowej. Taki sposób myślenia leży u podstaw działalności metrologii, w której zagadnienia modelowania fizycznego rzeczywistych zjawisk dają się opisać za pomocą materii, energii (entropii), czasu i informacji (negentropii). Głównym celem metrologii jest przekształcenie modeli fizycznych zbudowanych z pojęć materii, energii, czasu, w modele metrologiczne i doświadczalna weryfikacja ich poprawności, w których to modele fizyczne uzupełniane są pojęciami informacji, tak aby dostarczały wiadomości jakościowych (obserwacja) i ilościowych (pomiar). Podstawowy schemat działania metrologii odpowiada schematowi procesu poznawczego, stanowiącego połączenia badanego obiektu, będącego celem poznania z jego modelem fizycznym i modelami matematycznymi i metrologicznymi, między którymi występują sprzężenia zwrotne stanowiące odzwierciedlenie procesów weryfikacyjnych poszczególnych modeli.

Spis rzeczy

Przedmowa
    
Grzegorz ŚWIRNIAK, Janusz MROCZKA, Dyfraktometria wysokiej rozdzielczości i interferometria w obszarze tęczy w pomiarze średnicy włókna szklanego    
Cezary NIEDZINSKI, Roman Z. MORAWSKI, Bayesowska metoda estymacji stężeń na podstawie danych spektrotbtometrycznych    
Jacek J. FISZ, Mikro/nanospcktroskopia i obrazowanie fluorcsccncynje w prawidłowym ujęciu: nanometrologia
Kamil BARCZAK, Tadeusz PUSTELNY, Badanie właściwości magnetooptycznych światłowodów specjalnych typu D