Księgarnia Techniczna

serdecznie zaprasza specjalistów po

książki techniczne

a także studentów - oferujemy

podręczniki akademickie

Sprzedajemy książki jako księgarnia wysyłkowa oraz w tradycyjnej ksiegarni.
Księgarnia Techniczna | Podręczniki akademickie | Książki techniczne
Katalog » AUTOMATYKA
Wyszukiwarka


Zaawansowane wyszukiwanie
Wydawnictwo
Wybierz kategorię
Towar dnia
29,00 zł
Podgląd zamówienia

Aby sprawdzić status zamówienia Wpisz jego unikalny numer
Informacje o produkcie:
Kliknij aby zobaczyć zdjęcie w oryginalnej wielkości
Problemy funkcjonalnego testowania pamięci RAM
Dostępność: jest na magazynie sklepu - wysyłka w 24h.
Dostępna ilość: 1
Autor
ISBN
0867-096X
Liczba stron
264
Oprawa
miękka
Format
B5
Rok wydania
2009
Język
polski
  Cena:

Ilość

przechowalnia

37,00 zł

Pierwsza na polskim rynku monografia w całości odnosząca się do problemu testowania pamięci RAM. W publikacji autorzy skupili się nad jednym z aspektów powyższego problemu, a mianowicie nad testowaniem funkcjonalnym. Szczególna uwaga poświęcona została testom transparentnym (ang.transparent memory tests) jak również testom wieloprzebiegowym. Te pierwsze pozwalają testować pamięć bez konieczności przerywania normalnej pracy urządzenia, podczas gdy te drugie wykazują się dużą efektywnością w wykrywaniu uszkodzeń złożonych np. uszkodzeń uwarunkowanych zawartością (ang. Pattern Sensitive Faults). W poszczególnych rozdziałach monografii, przedstawione zostały znane z literatury modele uszkodzeń, jak również algorytmy pozwalające efektywnie wykrywać uszkodzenia przez nie definiowane. Obszerną część pracy stanowią oryginalne analizy i wyniki badań dotyczące powyższej tematyki, zaprezentowane wcześniej w licznych publikacjach. W wypadku testowania transparentnego szczegółowo omówiono autorską technikę wykorzystującą wysoki stopień symetrii testów krokowych, a mianowicie technikę testów symetrycznych (ang. symmetric transparent tests). Przedstawiając testowanie wieloprzebiegowe autorzy przeanalizowali dogłębnie zarówno technikę zmiany adresacji jak też zmiany zawartości początkowej pamięci. Zaproponowano algorytmy umożliwiające w sposób optymalny dobierać parametry początkowe poszczególnych iteracji testu. Monografia adresowana jest do studentów i doktorantów wydziału informatyki, elektroniki, telekomunikacji i automatyki. Ponadto, algorytmy w niej przedstawione oraz zaproponowane techniki mogą zostać bezpośrednio wykorzystane przez inżynierów i projektantów systemów cyfrowych.

Spis treści

Wstęp

1.    Podstawowe rodzaje pamięci RAN w systemach cyfrowych
1.1.    Pamięć statyczna – SRAM
1.2.    Pamięć dynamiczna DRAM
1.2.1.    Architektury realizacji pamięci DRAM
1.2.2.    FPM DRAM
1.2.3.    EDO DRAM
1.2.4.    SDRAM
1.3.    Podstawowe rodzaje testów pamięci RAM

2.    Funkcjonalne modele uszkodzeń pamięci
2.1.    Modele pamięci
2.1.1.    Modele pamięci na różnych poziomach abstrakcji
2.1.2.    Uproszczony funkcjonalny model pamięci
2.2.    Tradycyjne funkcjonalne modele uszkodzeń pamięci
2.2.1.    Tradycyjna notacja opisu funkcjonalnych modeli uszkodzeń
2.2.2.    Uszkodzenia związane z komórkami pamięci
2.2.3.    Uszkodzenia dekodera adresu i bloku odczytu/zapisu
2.2.4.    Odwzorowanie uszkodzeń rzeczywistych w modele funkcjonalne
2.3.    Rozszerzone funkcjonalne modele uszkodzeń pamięci
2.3.1.    Uszkodzenia pierwotne
2.3.2.    Klasyfikacja uszkodzeń pierwotnych
2.3.3.    Jednokomórkowe funkcjonalne modele uszkodzeń
2.3.4.    Statyczne jednokomórkowe modele uszkodzeń
2.3.5.    Dynamiczne jednokomórkowe modele uszkodzeń
2.3.6.    Statyczne dwukomórkowe modele uszkodzeń
2.3.7.    Dynamiczne dwukomórkowe modele uszkodzeń
2.4.    Uszkodzenia powiązane
2.5.    modele uszkodzeń pamięci o organizacji słownej
2.6.    Ilościowa analiza modeli uszkodzeń pamięci

3.    Funkcjonalne testy pamięci
3.1.    Testy tradycyjne
3.1.1.    Test MSCAN
3.1.2.    Test Checkerboard
3.1.3.    Test GALPAT
3.1.4.    Porównanie testów tradycyjnych
3.2.    Testy krokowe
3.2.1.    Język opisu – MTL
3.2.2.    Klasyczne testy krokowe
3.2.3.    Analiza efektywności testów krokowych w odniesieniu do uszkodzeń prostych
3.2.4.    Analiza efektywności testów krokowych w odniesieniu do uszkodzeń powiązanych
3.2.5.    Analiza jakości testów krokowych w odniesieniu do uszkodzeń NPSFk
3.2.6.    Test March PS(23N)
3.2.7.    Test March PNPSFk
3.2.8.    Automatyczne generowanie testów krokowych

4.    Transparentne testowanie pamięci
4.1.    Ogólna charakterystyka transparentnych testów pamięci
4.2.    Przekształcenie testów nietrensparentnych w testy transparentne
4.3.    Testowanie pamięci oparte na testach symetrycznych
4.3.1.    Technika symetrycznych testów pamięci
4.3.2.    Wpływ techniki symetrycznych testów pamięci opartej na symetrii TYPU 2 na jakość testowania
4.3.3.    Przekształcanie testów niesymetrycznych w testy symetryczne
4.3.4.    Idealne przekształcenia testów krokowych

5.    Efektywne wykrywanie uszkodzeń uwarunkowanych zawartością
5.1.    Warunki niezbędne do wykrywania i lokalizacji uszkodzeń uwarunkowanych zawartością
5.2.    Tradycyjne podejścia do wykrywania uszkodzeń uwarunkowanych zawartością
5.2.1.    Algorytm pokryciowy
5.2.2.    Algorytm dwóch grup
5.2.3.    Algorytm oparty na macierzy wzorców testowych
5.2.4.    Algorytm krokowy oparty na czterech wzorcach testowych
5.2.5.    Ważona wydajność testów krokowych w odniesieniu do uszkodzeń PSF
5.3.    Zmiany adresacji w testowaniu wieloprzebiegowym
5.3.1.    Techniki generowania pełnych sekwencji adresowych
5.3.2.    Optymalne zbiory orbit testowych
5.4.    Zmiany zawartości pamięci w testowaniu wieloprzebiegowym
5.4.1.    Losowe zmiany zawartości pamięci
5.4.2.    Miary zróżnicowania zawartości pamięci
5.4.3.    Wpływ odległości Hamminga na wydajność sesji testowej
5.4.4.    testowanie dwuprzebiegowe
5.4.5.    Testowanie trójprzebiegowe
5.4.6.    Testowanie czteroprzebiegowe
5.4.7.    Algorytm generowania optymalnych wektorów pamięci
5.5.    Wieloprzebiegowe sesje testowe oparte na prostych testach krokowych
5.5.1.    Analiza trójprzebiegowej sesji testowej
5.5.2.    Analiza czteroprzebiegowej sesji testowej
5.5.3.    Analiza wieloprzebiegowych sesji testowych opartych na regularnych wektorach pamięci
5.5.4.    Analiza porównawcza wydajności testowania wieloprzebiegowego opartego na zmianie zawartości pamięci

Podsumowanie

Bibliografia

Skorowidz
Galeria
Opinia o książce
Ocena
Zapytaj o szczegóły
Imię i nazwisko:
E-mail:
Twoje pytanie:
Wpisz kod widoczny na obrazku:
weryfikator
Informacje
Przechowalnia - Pamiętaj

Podgląd ulubionych książek
PRZECHOWALNIA


Koszyk
Twój koszyk jest pusty
Bezpieczeństwo danych - SSL

Księgarnie ochrania
certyfikat SSL

Zabezpiecza IQ.PL

Opinie klientów

Sklep ksiegarnia.edu.pl - opinie klientów

Przechowalnia
Brak produktów w przechowalni
Najczęściej oglądane
16,00 zł
38,00 zł
57,00 zł
23,00 zł
11,00 zł
14,00 zł
32,00 zł
37,00 zł
42,00 zł
26,00 zł
86,00 zł
30,00 zł
50,00 zł
41863803


Księgarnia Techniczna zamieszcza w ofercie głównie podręczniki akademickie oraz książki techniczne przede wszystkim z dziedzin takich jak mechanika techniczna, podstawy konstrukcji, technologia gastronomiczna. Główne wydawnictwa w ofercie to Politechnika Warszawska, Politechnika Wrocławska, Politechnika Świętokrzyska oraz POLSL.
Wszelkie sugestie odnośnie zapotrzebowania na określone książki techniczne i podręczniki akademickie prosimy zgłaszać poprzez email podany w zakładce Kontakt


Księgarnia Techniczna - XML Sitemap


© Księgarnia Techniczna. Wszelkie Prawa Zastrzeżone. All Rights Reserved.