Współczesną technikę pomiarową cechuje powszechne wykorzystywanie urządzeń programowanych; czyli zawierających procesory i realizujących swoje działania pod nadzorem programu. Najprostsze z programowanych przyrządów pomiarowych zawierają mikroprocesory sterujące procesem pomiaru i realizujące niezbędne przetwarzanie wyników. Do bardziej rozbudowanych urządzeń można zaliczyć przyrządy wirtualne, w których stosunkowo duża moc obliczeniowa komputera wykorzystywana jest zarówno do przetwarzania, jak i wizualizacji danych pomiarowych. Najbardziej złożone procesy przetwarzania zachodzą w systemach pomiarowych, w których obiekty pomiaru opisywane są modelami wielowymiarowymi, a przetwarzanie realizują zespoły komputerów pracujące w sieci.
We wszystkich opisanych sytuacjach pozyskiwanie danych pomiarowych odbywa się w taki sam sposób - za pomocą toru (lub torów) przetwarzania analogowo-cyfrowego dostarczającego danych cyfrowych poddawanych następnie przetwarzaniu wstępnemu realizowanemu tak, aby uzyskać odpowiednią dokładność wyników końcowych. Traktując powyższy proces w sposób elementarny i rozpatrując go w pewnym horyzoncie czasowym, można powiedzieć, że jest on realizowany na ciągach danych wejściowych reprezentujących wartości chwilowe zmiennej w czasie wielkości mierzonej. Tego rodzaju proces pomiaru nazywany jest pomiarowym przetwarzaniem próbkującym i stanowi przedmiot rozważań niniejszego, podręcznika.

Spis treści:

WSTĘP

1. WPROWADZENIE

2. UKŁADY PRZETWARZANIA ANALOGOWO-CYFROWEGO
2.1. WZMACNIACZE POMIAROWE
2.1.1. Wymagania stawiane wzmacniaczom pomiarowym
2.1.2. Schemat zastępczy obwodu wejściowego wzmacniacza
2.1.3. Podstawowy układ wzmacniacza pomiarowego
2.1.4. Przenoszenie napięcia wspólnego przez wzmacniacz podstawowy
2.1.5. Standardowy układ wzmacniacza pomiarowego
2.1.6. Przykładowe rozwiązania scalonych wzmacniaczy pomiarowych
2.1.7. Parametry wzmacniaczy pomiarowych
2.1.8. Szumy wzmacniaczy pomiarowych
2.1.9. Schemat zastępczy wzmacniacza pomiarowego
2.1.10. Wykorzystanie końcówek S i R wzmacniacza pomiarowego
2.1.11. Analiza wpływu elementów pasożytniczych na tłumienie napięcia wspólnego
2.1.12. Ekranowanie wejść wzmacniacza pomiarowego
2.1.13. Eliminacja napięcia wspólnego z obwodu wejściowego wzmacniacza
2.1.14. Polaryzacja wejść wzmacniacza pomiarowego
2.2. KOMUTATORY ANALOGOWE
2.2.1. Ogólny opis komutatora
2.2.2. Schemat zastępczy przełącznika analogowego
2.2.3. Przełącznik kontaktronowy
2.2.4. Przełączniki CMOS
2.2.5. Podstawowe konstrukcje komutatorów
2.2.6. Przykładowe rozwiązania komutatorów
2.2.7. Parametry komutatorów scalonych
2.2.8. Komutatory z przełączanymi kondensatorami
2.3. WZMACNIACZE PROGRAMOWANE
2.3.1. Podstawowe konstrukcje wzmacniaczy programowanych
2.3.2. Kaskadowe łączenie wzmacniaczy pomiarowych
2.4. UKŁADY PRÓBKUJĄCO/PAMIĘTAJĄCE
2.4.1. Sposób działania układu próbkująco/pamiętającego
2.4.2. Podstawowe konfiguracje układów próbkująco/pamiętających
2.4.3. Właściwości układów próbkująco/pamiętających
2.4.4. Układ próbkująco/pamiętający SHC 5320
2.5. PRZETWORNIKI CYFROWO/ANALOGOWE
2.5.1. Ogólny opis przetwarzania cyfrowo/analogowego
2.5.2. Właściwości podstawowych kodów stosowanych w przetwornikach C/A
2.5.3. Podstawowe rodzaje przetworników C/A
2.5.4. Parametry przetworników C/A
2.5.5. Przykładowe rozwiązanie przetwornika C/A
2.6. PRZETWORNIKI ANALOGOWO/CYFROWE
2.6.1. Proces kwantowania
2.6.2. Podstawowe rozwiązania przetworników A/C
2.6.3. Parametry przetworników A/C
2.6.4. Przykładowe rozwiązanie przetwornika A/C

3. ODTWARZANIE PROGRAMOWE W PRZETWORNIKU PRÓBKUJĄCYM
3.1. ALGORYTMY ODTWARZANIA
3.1.1. Przetwarzanie programowe na zasadzie odtwarzania
3.1.2. Dekompozycja modeli przetwarzania analogowego
3.1.3. Rozdzielanie statycznych i dynamicznych właściwości przetwornika
3.1.4. Algorytm odtwarzania
3.1.5. Dynamiczne błędy przetwarzania próbkującego
3.2. WYZNACZANIE NIEPEWNOŚCI WYNIKÓW PRZETWARZANIA PRÓBKUJĄCEGO
3.2.1. Uwagi wstępne
3.2.2. Parametry zbioru wartości błędu
3.2.3. Niepewność jako parametr zbioru wartości błędu
3.2.4. Model błędów algorytmu dynamicznego
3.2.5. Model błędów algorytmu statycznego
3.2.6. Model niepewności algorytmu
3.2.7. Model niepewności algorytmu odtwarzania

4. PRZYKŁADOWY PRZETWORNIK PRÓBKUJĄCY
4.1. PROCES PRZETWARZANIA W PRZYKŁADOWYM PRZETWORNIKU PRÓBKUJĄCYM
4.1.1. Parametry elementów składowych przetwornika
4.1.2. Struktura procesu przetwarzania realizowanego przez przetwornik próbkujący
4.1.3. Wyznaczanie wartości parametrów modelu odwrotnego
4.1.4. Adiustacja woltomierza próbkującego
4.1.5. Realizacja procesu przetwarzania przez woltomierz próbkujący
4.2. WYZNACZANIE NIEPEWNOŚCI WOLTOMIERZA PRÓBKUJĄCEGO
4.2.1. Błędy procesu przetwarzania próbkującego
4.2.2. Model błędów układu dopasowania i kwantyzatora
4.2.3. Model błędów algorytmu odtwarzania
4.2.4. Model niepewności woltomierza próbkującego

LITERATURA
SKOROWIDZ PODSTAWOWYCH TERMINÓW